Tasaki K., Kuriyama T., Tosaka T., Igarashi M., Terai M., Kuwano K., Nakao H., Yamaji M., Nemoto K., Marukawa K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, coils pancake, cryocoolers, persistent current mode, switches, YBCO, films, Maglev system, current decay, modeling, power equipment
Kuriyama T., Nomura S., Takahashi Y., Inoue K., Hobara N., Yazawa T., Ootani Y., Sakai M., Ohkuma T.
Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Okamoto H., Inoue A., Hoshi S., Kai M.(kai@istec.or.jp), Koyama S., Otsuka M.
Ключевые слова: FCL rectifier type, HTS, Bi2223, tapes, coils model, breakdown characteristics, insulating medium, voltage waveforms, current leads, test results, power equipment
Kuriyama T., Yazawa T., Tosaka T., Kuwano K.(k.kuwano@jr-central.co.jp), Igarashi M., Terai M.
Kuriyama T., Igarashi M., Terai M., Tosaka T.(taizo.tosaka@toshiba.co.jp), Yamaji M.(mutsuhiko.yamaji@toshiba.co.jp), Kuwano K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, wires, magnets, switches, switches, YBCO, films, substrate single crystal, fabrication, test results, power equipment, persistent current mode
Igarashi M., Terai M., Kuwano K., Nemoto K.(k.nemoto@jr-central.co.jp), Okutomi T., Nakao H., Yanase Y., Yamashita T., Yamaji M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, current leads, heat leakage, magnets, cryocoolers, fabrication, power equipment
Kodama Y.(kodama-yasuharu@aist.go.jp), Hirai M., Iyo A., Tanaka Y., Tanemura S.
Ключевые слова: HTS, bulk, oxygenation treatments, heat treatment, magnetization, temperature dependence, fabrication, magnetic properties
Hirai M., Iyo A., Tanaka Y., Kito H.(h.kito@aist.go.jp), Tokumoto M., Okayasu S., Sasase M., Sataka M., Ihara H.
Asada S., Shiohara Y., Maeda T., Izumi T.(t-izumi@istec.or.jp), Hasegawa K., Kai M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, LPE process, substrate Ni, microstructure, experimental results, fabrication, magnetic properties
Fisher B.L., Miller D.J., Balachandran U., Koritala R.E.(koritala@anl.gov), Beihai M., Meiya L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, template layers, buffer layers, ISD process, microstructure, fabrication, substrate Ni-V
Koritala R.E., Fisher B.L., Markowitz A.R., Erck R.A., Dorris S.E., Miller D.J., Balachandran U., Meiya L., Beihai M.(bma@anl.gov)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.